DeepLightSeekdefinición:
Un método basado en el efecto de autoenfoque para medir la resistencia no lineal de Kerr de materiales
ZLa tecnología de medición de escaneo se utiliza comúnmente para medir la intensidad no lineal de Kerr (es decir, índice de refracción no lineal) de materiales ópticos.n2）. El principio es mover la muestra de material a ensayar a través del foco del haz láser y medir el radio del haz (o intensidad en el eje óptico) en un cierto punto detrás de la muestra. Debido al efecto del autoenfoque, estas cantidades cambiarán, obteniendo así una función del radio del haz (o intensidad en el eje óptico) con respecto a la posición de la muestra.
Como se muestra en la figuraunoComo se muestra, es unaZDispositivo de medición de escaneo. Si el índice de refracción no lineal es positivo y la muestra se coloca detrás del punto focal, el efecto de autoenfoque reducirá la divergencia del haz, aumentando así la intensidad de la señal del detector. Si la muestra se coloca delante del punto focal, el punto focal se moverá a la izquierda, y la fuerte divergencia del haz después del enfoque reducirá la intensidad de la señal del detector. La magnitud del índice de refracción no lineal puede calcularse a partir de la relación funcional entre la intensidad de señal del detector medida y la posición de la muestra.
(imagen1) ZDiagrama de configuración experimental de medición de escaneo. Mediante la medición de la intensidad de luz después de pasar a través de la abertura y la determinación de su relación con la posición de la muestra, se puede calcular el índice de refracción no lineal.n2El detector en la esquina superior izquierda se utiliza comúnmente para detectar la intensidad de la luz incidente.
Debe observarse que cierta absorción no lineal (tal como la absorción de dos fotones) también puede afectar a la señal medida. Sin embargo, esto puede corregirse registrando adicionalmente todas las potencias de haz transmitidas.
